复合绝缘子由于其优秀的防污闪特性被越来越多地应用于电力系统中，良好的生产质量是复合绝缘子能够长期安全运行的首要条件，在制造过程中，不允许在复合绝缘子中含有内部缺陷，例如裂隙、脱粘等。一旦复合绝缘子含有内部缺陷，将很容易出现老化过程，例如局部放电、护套闪络等。

目前，关于内部缺陷对老化过程的影响尚没有一个清晰全面的认识，为了优化复合绝缘子的生产工艺，提高其出厂质量，需要针对含内部缺陷的复合绝缘子的老化过程进行更多的研究。本文主要对含缺陷的复合绝缘子进行人工加速基金项目：国家自然科学基金资助项目(51150110477)老化试验，试验结果有助于我们理解含交界面缺陷复合绝缘子的老化过程。所采用的试验方法也推荐成为鉴定复合绝缘子交界面质量的补充手段。

一、试验样品

进行加速老化实验的短绝缘子在芯棒与护套交界面上含有不同类型的人造缺陷，缺陷尺寸见图1。人造缺陷主要包括以下类型：

(1)导通缺陷(铜片，厚0.2 m m，宽20 m m，长40-60 I nm)。

(2)半导通缺陷(木片，厚1 m m，宽20 m m，长40～60 m m)。

(3)部分区域粘结性丧失60 m i nx20 m m(长×宽)。

(4)无缺陷(对照组)。加速老化试验所用的电极与水煮试验类似，电极结构见图2。

二、试验方法

将短绝缘子样品加装电极进行加速老化试验，接地电极与1个高采样率的泄露电流采集装置相连，以监控加压过程中的泄露电流波形与局部放电脉冲波形。整个加压装置安装在雾室中，室内的温度与相对湿度均可控在试验开始前，采用下列方法之一对含人造缺陷绝缘子样品进行预处理：

1)使用真空干燥箱在50℃下进行干燥；

2)不同时长的水煮试验；

3)在50℃下对水煮后的样品重新进行干燥。不同的预处理过程可以更好地帮助我们理解水分侵入对于复合绝缘子老化机理以及泄露电流的影响。为了比较含不同缺陷的复合绝缘子的泄露电流特征，对其施加逐步升高的试验电压，初始试验电压3kV，每次升压2kV，至33kV为止。每次升压后，维持电压不变持续至少1min。如果泄露电流仍随时间变化，则继续保持电压，直至泄露电流稳定或者有闪络发生。在试验过程中．使用红外相机(FLIR T330)观测样品的温度分布情况。http://www.zhenghangsy.net